耦合隐马尔科夫在模拟电路故障预测中的应用

• 作者: 叶晓慧 孙金明 田沿平 金川
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 模拟电路系统 状态识别 故障预测 耦合隐马尔可夫模型
• 年，卷（期）: 2014,（10）
• 所属期刊栏目: 在线测试与故障诊断
• 页码范围: 135-138
• 页数: 4页
• 分类号: TP3
• 字数: 2800字
• 语种: 中文

摘要

为了能够更准确地对模拟电路系统中各退化状态进行状态识别和故障预测,针对单一通道的隐马尔可夫模型在模拟电路系统中预测精度不高的特点,提出了一种具有2条Markov链的耦合隐马尔可夫模型故障预测方法.该方法在模拟电路中采用2个测试点通过双通道数据分别对各退化状态和全寿命进行建模,实验结果表明,耦合隐马尔可夫模型与传统的隐马尔可夫模型相比,不但提高了状态识别率,而且能对电路系统的故障发生进行有效地预测,为状态维修提供依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	叶晓慧	海军工程大学电子工程学院	70	448	12.0	16.0
2	孙金明	海军工程大学电子工程学院	5	30	3.0	5.0
3	田沿平	海军工程大学电子工程学院	3	16	2.0	3.0
4	金川	海军工程大学电子工程学院	2	10	2.0	2.0