引信电子延时装置储存性能变化原因分析

• 作者: 范志锋 赵铁山 郑波 齐杏林
• 来源期刊: 弹箭与制导学报
• 关键词: 电子延时装置 储存失效 加速试验 失效分析
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 弹药技术
• 页码范围: 110-112,116
• 页数: 4页
• 分类号: TJ430.37
• 语种: 中文

摘要

为了研究引信电子延时装置储存性能变化及原因,定位退化或失效元器件,以接近质保期的两个引信电子延时装置为样本开展加速试验,并通过电路仿真模拟,分析可能出现失效的元件为陶瓷电容和末级三极管,得出电子延时装置储存失效或退化的原因是陶瓷电容层间膨胀幅度不同,容值减小以及末级三极管引线键合界面微裂纹扩展.结果表明,通过加速试验与电路仿真相结合的方法可以找出失效元器件并分析其性能退化原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑波		8	58	4.0	7.0
2	齐杏林		18	39	3.0	5.0
3	赵铁山		3	2	1.0	1.0
4	范志锋		6	8	1.0	2.0