基于频率特性测试的模拟电路BIST设计

• 作者: 王海超 谈恩民
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 模拟电路 内建自测试 频率特性 容差性故障
• 年，卷（期）: 2014,（11）
• 页码范围: 74-78
• 页数: 5页
• 分类号: TP206
• 语种: 中文

摘要

在大规模数模混合信号集成电路中，模拟信号的测试是一个重点和难点．BIS T技术不仅能缩短测试和验证时间，而且提高了故障覆盖率，被越来越多地应用在模拟电路的测试中．由此对传统的模拟电路BIST 方法进行了探讨，并提出一种利用方波信号作为激励源，通过比较电路响应输出波形变化来诊断故障的模拟电路频率特性测试BIS T方案．该方案结构简单，易于集成，减小了测试的复杂性和代价．仿真实验结果表明，方案能够有效检测电路容差性故障，适合模拟集成电路的内建自测试．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谈恩民	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	53	221	8.0	11.0
2	王海超	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	2	12	1.0	2.0