模拟集成电路频率特性测试

• 作者: 曹健 薛冰
• 来源期刊: 测试科学与仪器
• 学科: 工学
• 关键词: 矩形脉冲 模拟电路 内建测试(BIT) 边界扫描
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: Measurement theories and technologies
• 页码范围: 12-15
• 页数: 4页
• 分类号: TN401
• 字数: 1172字
• 语种: 英文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-8042.2014.03.003

摘要

本文提出了一种基于边界扫描测试技术的模拟电路频率特性测试方法。测试选用矩形脉冲作为激励，通过加入模拟开关，简化了模拟电路的测试过程。以模拟集成芯片uA741为被测核心电路进行实验，结果证明该设计是可行性的，而且与传统测试方法相比，该方法具有更高的可靠性和可测性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	薛冰		9	3	1.0	1.0