CMOS模拟集成电路匹配技术及其应用

• 作者: 吴大勇 蒋平 马琪
• 来源期刊: 杭州电子科技大学学报（自然科学版）
• 关键词: 模拟集成电路 版图 匹配 运放
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 页码范围: 13-16
• 页数: 4页
• 分类号: TN402
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9146.2007.06.004

摘要

集成电路工艺变化引起失配,而模拟集成电路匹配特性影响电路的性能,电路达到适当的匹配已成为模拟电路设计的一个重要设计目标.该文阐述了失配的机理,分析了失配引起电路共模抑制比降低、失调和偶次失真等影响,在此基础上研究了消除一阶工艺梯度偏差的匹配版图技术,并针对一运放电路分析了匹配技术在运放版图设计中的应用.