原文服务方: 微电子学与计算机       
摘要:
新一代模拟集成电路版图自动化系统在重用原有版图时,迫切需要提取其中的匹配设计信息,以保证其输出版图的质量.在角勾链数据结构的基础上,提出了新的对称检测、提取算法及数据结构.该算法检测出器件之间的对称关系,进一步提取出模块之间的对称关系,并将器件级和模块级对称关系及底层的角勾链结构以独特的数据结构统一存储.结果表明,该算法与数据结构能够有效地提取并表示设计者在版图中渗透的匹配设计思想,为版图的生成提供多级对称约束条件,从而有力地保证重用系统所输出的模拟版图的性能.
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文献信息
篇名 模拟集成电路版图中的对称检测与提取方法
来源期刊 微电子学与计算机 学科
关键词 模拟电路版图 计算机辅助设计 对称检测
年,卷(期) 2008,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 185-189
页数 5页 分类号 TP391
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张有光 北京航空航天大学电子信息工程学院 124 907 15.0 26.0
2 吕江崴 北京航空航天大学电子信息工程学院 2 13 2.0 2.0
3 孙泉 北京航空航天大学电子信息工程学院 2 13 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
模拟电路版图
计算机辅助设计
对称检测
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期刊影响力
微电子学与计算机
月刊
1000-7180
61-1123/TN
大16开
1972-01-01
chi
出版文献量(篇)
9826
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59060
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