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模拟集成电路版图中的对称检测与提取方法
模拟集成电路版图中的对称检测与提取方法
作者:
吕江崴
孙泉
张有光
原文服务方:
微电子学与计算机
模拟电路版图
计算机辅助设计
对称检测
摘要:
新一代模拟集成电路版图自动化系统在重用原有版图时,迫切需要提取其中的匹配设计信息,以保证其输出版图的质量.在角勾链数据结构的基础上,提出了新的对称检测、提取算法及数据结构.该算法检测出器件之间的对称关系,进一步提取出模块之间的对称关系,并将器件级和模块级对称关系及底层的角勾链结构以独特的数据结构统一存储.结果表明,该算法与数据结构能够有效地提取并表示设计者在版图中渗透的匹配设计思想,为版图的生成提供多级对称约束条件,从而有力地保证重用系统所输出的模拟版图的性能.
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文献信息
篇名
模拟集成电路版图中的对称检测与提取方法
来源期刊
微电子学与计算机
学科
关键词
模拟电路版图
计算机辅助设计
对称检测
年,卷(期)
2008,(1)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
185-189
页数
5页
分类号
TP391
字数
语种
中文
DOI
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作者信息
序号
姓名
单位
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被引次数
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1
张有光
北京航空航天大学电子信息工程学院
124
907
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2
吕江崴
北京航空航天大学电子信息工程学院
2
13
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2.0
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孙泉
北京航空航天大学电子信息工程学院
2
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节点文献
模拟电路版图
计算机辅助设计
对称检测
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子学与计算机
主办单位:
中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-7180
CN:
61-1123/TN
开本:
大16开
出版地:
邮发代号:
创刊时间:
1972-01-01
语种:
chi
出版文献量(篇)
9826
总下载数(次)
0
总被引数(次)
59060
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微电子学与计算机2008年第7期
微电子学与计算机2008年第5期
微电子学与计算机2008年第10期
微电子学与计算机2008年第3期
微电子学与计算机2008年第6期
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