基于蚁群算法的数字微流控芯片并行测试

• 作者: 蔡震
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 蚁群算法 数字微流控芯片 并行测试
• 年，卷（期）: 2014,（10）
• 所属期刊栏目: 电子·电路
• 页码范围: 156-159,162
• 页数: 5页
• 分类号: TN79|TP301.6
• 字数: 3289字
• 语种: 中文

摘要

可靠性是数字微流控生物芯片的一项重要指标,尤其是在安全性要求较高的应用领域.因此,芯片需要在生产制造后或生化实验前进行充分测试,以排除故障,确保实验结果准确.文中针对芯片的结构故障,提出了一种基于蚁群算法的并行测试方案,实现对较大规模的数字微流控芯片进行多液滴并行测试.该方案首先将芯片模型转化为MTSP模型,并利用蚁群算法分布式计算特性搜索多组优化的测试路径,完成对数字微流控芯片实验路径的测试.实验结果表明,该方案可用于在线测试,并能有效地减少大规模芯片的测试时间,且提高了工作效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡震	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	2	31	2.0	2.0