推扫型高光谱数据光串扰校正方法研究

• 作者: 袁艳 贾国瑞 赵慧洁 陶东兴 马艳华
• 来源期刊: 光谱学与光谱分析
• 学科: 工学
• 关键词: 高光谱数据 非理想成像 光串扰 预处理
• 年，卷（期）: 2014,（11）
• 页码范围: 3141-3146
• 页数: 6页
• 分类号: TP75
• 字数: 3092字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2014)11-3141-06

摘要

串扰是成像光谱仪非理想成像特性中的一种，分为电串扰和光串扰，它广泛存在于现有的成像光谱仪之中。推扫型高光谱数据的光串扰使目标像元受到临近像元的影响，目标像元光谱曲线发生变化，图像的清晰度降低。基于推扫型成像光谱仪的成像原理，提出一种针对推扫型高光谱数据的光串扰校正方法。从高光谱数据中选取包含白色定标布地物的区域作为参考数据，通过行间差值方法得到所有白色定标布像元产生的总光串扰量；对总光串扰量进行拟合以抑制噪声，并通过递归方法计算单个白色定标布像元所产生的光串扰量；使用该串扰量对整景数据进行光串扰校正。选用三景不同地物类型的PHI数据进行光串扰校正，结果显示，校正后数据的光串扰现象得到明显的抑制，数据质量在光谱维和空间维均得到有效提升。在光谱维，由光串扰引起的光谱曲线变化得到校正；在空间维，图像清晰度提高50％以上的波段数占总波段数的83％。校正方法直接从高光谱数据本身提取光串扰量，并对数据光串扰现象进行校正，不依赖于其他外部数据，且适用于不同的地物类型。该光串扰校正方法亦对实验室测定成像光谱仪的光串扰量具有借鉴意义。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵慧洁	北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院精密光机电一体化技术教育部重点实验室	99	856	16.0	25.0
2	袁艳	北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院精密光机电一体化技术教育部重点实验室	51	535	14.0	21.0
3	贾国瑞	北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院精密光机电一体化技术教育部重点实验室	15	45	4.0	6.0
4	陶东兴	北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院精密光机电一体化技术教育部重点实验室	2	4	1.0	2.0
5	马艳华	中国科学院上海技术物理研究所	13	138	7.0	11.0