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摘要:
本文概述了三种不同的固晶方法,对银胶固晶及共晶的芯片进行热阻测量及大电流老化试验,明确了LED共晶方式可以有效降低器件热阻,从而提高封装器件的可靠性.另外,对两种不同共晶方式的成本和工艺问题进行了简要的阐述.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 浅谈共晶焊接在LED封装中的应用
来源期刊 中国科技信息 学科
关键词 共晶焊 封装 LED 热阻
年,卷(期) 2014,(8) 所属期刊栏目 推广技术
研究方向 页码范围 210-211
页数 2页 分类号
字数 1246字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-8972.2014.08.077
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王新中 25 40 4.0 5.0
2 刘文 29 73 5.0 7.0
3 鲍锋辉 3 6 1.0 2.0
4 邹仕渊 1 1 1.0 1.0
传播情况
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引文网络
引文网络
二级参考文献  (8)
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研究主题发展历程
节点文献
共晶焊
封装
LED
热阻
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
中国科技信息
半月刊
1001-8972
11-2739/N
大16开
北京西城区车公庄大街16号1号楼1610室
82-415
1989
chi
出版文献量(篇)
49952
总下载数(次)
82
相关基金
广东省自然科学基金
英文译名:Guangdong Natural Science Foundation
官方网址:http://gdsf.gdstc.gov.cn/
项目类型:研究团队
学科类型:
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