一种基于像素点TFT-LCD的点线缺陷的检测方法

• 作者: 张佳
• 来源期刊: 科技创业月刊
• 学科: 工学
• 关键词: 液晶显示器 像素点 点线缺陷 缺陷检测算法
• 年，卷（期）: 2014,（11）
• 所属期刊栏目: 应用技术
• 页码范围: 182-184
• 页数: 3页
• 分类号: TN27
• 字数: 2084字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1665-2272.2014.11.075

摘要

在目前大多数的液晶显示器(Liquid crystal display,LCD)制造过程中,很多都是基于人眼的缺陷检测,有很多的人工检测的弊端,研究目前基于TFT-LCD的点、线缺陷的机器视觉的自动检测方法.基于SEMI标准中点、线缺陷的测量规范和LCD视觉检测试验平台,针对点、线缺陷的灰度变化值,来研究基于图形值方根值、灰度分割、灰尘去除、基于像素点的图形识别来进行的缺陷量化的方法,综合几个方面的研究,建立点线缺陷自动检测流程.试验证明,所提出的方法能较好地检测做到灰度增强、抑制背景、确定灰度差异,准确分割和识别出点线的缺陷,并给予相应的量化标准.该方法适用于点线缺陷的自动检测,检测方式和人眼相似,有很好的鲁棒性能.对于100片LCD样本做分析,有98片能成功检测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张佳	武汉大学信息管理学院	15	33	4.0	5.0