GOA型TFT LCD产品Shorting Bar Testing工序烧伤现象研究

• 作者: 刘志军
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: OLED 电性能测试 波形测试 电压补偿
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 器件物理及器件制备技术
• 页码范围: 51-56
• 页数: 6页
• 分类号: TN321+.5
• 字数: 2803字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20153001.0051

摘要

GOA型TFT LCD产品Shorting Bar testing工序烧伤现象严重,针对把根源归结为Shorting Bar Testing工序测试参数电压过高的假设,设计一个Source电压远高于理论测试电压的测试波形,分别以高压值参数和理论值参数对样品进行测试,结果发现两种情况下烧伤概率一样;针对把根源归结为Shorting Bar testing工序驱动程序启动瞬间冲击烧伤的假设,在测试驱动板上每个测试信号输入口加一个限流器,用加限流器和没加限流器的测试治具分别对样品进行测试,结果发现两者烧伤概率一样;针对把根源归结为静电击伤的假设,在Shorting Bar testing工序增加防静电措施,分别在改进前后的测试环境对样品进行测试,发现改进后未出现烧伤现象.可见出烧伤现象的根源在于静电,而非其他原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘志军	广州航海学院船舶工程系	43	92	5.0	7.0