小尺寸TFT-LCD GOA显示屏不良横纹的研究

• 作者: 刘洋 宋勇志 李兴亮 陈华斌 高英强
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: TFT-LCD 窄边框 GOA ITO电化学腐蚀 横纹不良
• 年，卷（期）: 2019,（5）
• 所属期刊栏目: 材料与器件
• 页码范围: 501-507
• 页数: 7页
• 分类号: TN27
• 字数: 3571字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20193405.0501

摘要

随着GOA(Gate On Array)技术的不断发展,在小尺寸TFT-LCD窄边框显示屏上的应用也越来越频繁,但是由于GOA电路的复杂性和TFT器件自身的稳定性,以及外界温度、湿度的影响,显示屏还存在显示不稳定的问题.本文针对小尺寸TFT-LCD GOA显示屏在高温高湿环境下产生的异常显示横纹,进行了深入分析与改善研究.通过对GOA区域ITO过孔电阻测试、显微镜检查以及修复实验验证,找出了不良产生的直接原因为ITO发生腐蚀,过孔电阻增大,导致GOA驱动信号无法上下导通.接着进一步研究ITO腐蚀发生的条件、ITO腐蚀情况、驱动信号对应关系以及腐蚀成分,证明了ITO发生腐蚀原因为产品长期工作(200 h左右)在高温高湿环境下,由于水汽的不断渗入,使GOA区域ITO发生了电化学腐蚀效应.最后根据电化学腐蚀原理,通过采用隔水性强的封框胶、增加ITO膜厚以及降低ITO电位差等措施对工艺进行了改善,结果表明改善后的显示屏超过1 000 h,未发生ITO腐蚀.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋勇志	北京京东方显示技术有限公司工艺开发部	9	40	4.0	6.0
2	高英强	北京京东方显示技术有限公司工艺开发部	1	1	1.0	1.0
3	陈华斌	北京京东方显示技术有限公司工艺开发部	1	1	1.0	1.0
4	李兴亮	北京京东方显示技术有限公司工艺开发部	1	1	1.0	1.0
5	刘洋	北京京东方显示技术有限公司工艺开发部	1	1	1.0	1.0