TFT-LCD关机横纹缺陷分析

• 作者: 徐帅 路林林
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: 横纹缺陷 放电 关机 偏压测试 漏电流
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 所属期刊栏目: 器件制备技术与器件物理
• 页码范围: 464-468
• 分类号: TN27
• 字数: 571字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20112604.0464

摘要

利用输出信号波形及偏压测试方法对TFT-LCD产品关机过程中发生的横纹不良进行了分析.分析结果表明,不良与像素电极放电效率相关.在此基础上提出了两种改善方法:一是通过改善TFT特性提高电极充放电能力；二是通过添加reset驱动电路实现像素电极同时放电.试验结果表明,放电效率的提升对于改善横纹缺陷效果明显,其中后者可完全消除不良现象.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	路林林		2	2	1.0	1.0
2	徐帅		2	2	1.0	1.0