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摘要:
The silicon-on-insulator diaphragm structure is a combined structure of the silicon dioxide and silicon layer. This work presents a new method to estimate the deflection response of silicon with that of a silicon-on-insulator (SOI) diaphragm structure, based on the burst pressure design approach. It also evaluates the output voltage of the diaphragm under two different conditions, flipped and un-flipped. The new modified analytical model developed and presented in this paper for describing the load deflection of SOI diaphragm is able to predict the deflection accurately when compared with the results obtained by finite element analysis CoventorWare~.
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文献信息
篇名 Computer Aided Modeling for a Miniature Silicon-on-Insulator MEMS Piezoresistive Pressure Sensor
来源期刊 光子传感器:英文版 学科 工学
关键词 硅上绝缘体 压阻式压力传感器 计算机辅助建模 MEMS 微型 有限元分析 膜结构 组合结构
年,卷(期) 2015,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 202-210
页数 9页 分类号 TN405
字数 语种 中文
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光子传感器(英文版)
季刊
1674-9051
51-1725/TP
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287
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