SRAM型FPGA的基于可观性度量的选择性三模冗余方法

• 作者: 李立健 涂吉 王子龙 王骏也 郑美松
• 来源期刊: 计算机辅助设计与图形学学报
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA 三模冗余 单粒子翻转 可观性 MCNC
• 年，卷（期）: 2015,（11）
• 所属期刊栏目: VLSI设计与测试及电子设计自动化
• 页码范围: 2184-2191
• 页数: 8页
• 分类号: TP302.8
• 字数: 6649字
• 语种: 中文

摘要

为了增强SRAM型FPGA抗单粒子翻转破坏的能力并减少硬件开销, 提出一种面向查找表的基于可观性度量的选择性三模冗余方法. 首先定义查找表发生单粒子翻转(SEU)故障的一种可观性概念, 并结合概念给出理论计算公式; 然后根据计算出的查找表可观性分布筛选出 SEU 敏感查找表; 最后插入相应的冗余电路. 此方法能够以较小的冗余比例, 使得电路的抗SEU性能接近全三模冗余的效果. 对MCNC'91的18个规模不同的电路进行实验的结果表明, 文中方法平均只需要冗余 37% 的查找表, 并且冗余后电路的抗 SEU 性能为 92.6%, 相比全三模冗余节省了63% 的硬件开销, 说明该方法能够在有效地提高电路的抗SEU性能前提下取得显著的硬件节省效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李立健	中国科学院自动化研究所集成电路设计中心	10	79	4.0	8.0
2	涂吉	中国科学院自动化研究所集成电路设计中心	4	9	2.0	2.0
3	王子龙	中国科学院自动化研究所集成电路设计中心	4	9	2.0	2.0
4	郑美松	中国科学院自动化研究所集成电路设计中心	2	3	1.0	1.0
5	王骏也	中国科学院自动化研究所集成电路设计中心	2	3	1.0	1.0