毫米波综合孔径辐射图像平均噪声功率特性

• 作者: 周辉林 李安 王玉皞 陈良兵
• 来源期刊: 华中科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 综合孔径 辐射成像 平均噪声功率 均方灵敏度 毫米波
• 年，卷（期）: 2015,（12）
• 所属期刊栏目: 计算机与电子信息工程
• 页码范围: 123-126
• 分类号: TP722.6
• 语种: 中文
• DOI: 10.13245/j.hust.151225

摘要

针对强点源目标探测时灵敏度近似解析值与实际值偏差较大,不利于成像探测系统的性能表征问题,从毫米波综合孔径辐射图像全局入手,应用矩阵理论对图像平均噪声功率进行研究.建立了图像平均噪声功率与系统参数之间的关系,在此基础上提出均方灵敏度的概念.仿真结果表明:均方灵敏度受观测场景亮温分布的影响小,仅依赖于系统参数,更适合表征毫米波综合孔径成像探测系统性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李安	南昌大学信息工程学院	30	158	6.0	11.0
2	周辉林	南昌大学信息工程学院	31	117	6.0	9.0
3	王玉皞	南昌大学信息工程学院	44	166	7.0	12.0
4	陈良兵	南昌大学信息工程学院	10	6	2.0	2.0