可满足性求解方法在 SoC 验证和测试中的应用

• 作者: 孙强
• 来源期刊: 牡丹江师范学院学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: 片上系统 验证 测试 可满足性问题
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 所属期刊栏目: 物理
• 页码范围: 25-27
• 页数: 3页
• 分类号: O441.3
• 字数: 2596字
• 语种: 中文

摘要

介绍可满足性（SAT）求解方法在向量自动生成、符号模型检查和组合电路等价性检查等在电子设计自动化（Electronic Design automation ，EDA ）研究领域中的应用，阐述SoC芯片验证和测试采用可满足性（SAT）方法进行解决的原理。满足性（SAT）求解方法可有效地减少验证和测试所需时间，提高SoC芯片设计的效率和可靠性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙强	牡丹江师范学院工学院	30	61	5.0	7.0