基于STM32F103RBT6的集中抄表老化测试系统

• 作者: 丁艳玲
• 来源期刊: 江苏科技信息
• 关键词: STM32F103RBT6 信号源 调试电路 串口通信
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 所属期刊栏目: 技术探讨
• 页码范围: 41-43
• 页数: 3页
• 字数: 1223字
• 语种: 中文

摘要

传统集中抄表老化测试电路接线复杂，效率低，成本高。为了提高老化测试效率，文章介绍了一种基于STM32F103RBT6的集中抄表老化测试系统，包括总体电路设计，抄控器与上位机的通信，采集器与信号源的接口电路，及相应的指示、电源和复位电路，并给出了相应的软件流程和串口程序。该系统通过合理的老化流程、优化设备间的通信协议最终做到高效、实时地完成产品老化，在老化过程中实时准确地报出故障产品以便下架检修。现场应用验证了系统运行稳定，测试方便。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁艳玲	南京机电职业技术学院自动化工程系	8	5	2.0	2.0