数字电路芯片检测系统的研制与应用

• 作者: 张红宾 张维 张颖 王艳芳 赵二刚
• 来源期刊: 实验室科学
• 学科: 工学
• 关键词: 数字电路芯片 检测系统 单片机
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 实验技术
• 页码范围: 43-46
• 页数: 4页
• 分类号: TP23
• 字数: 2356字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-4305.2015.01.013

摘要

研制了双列直插式数字电路芯片检测系统,以Atmega128L单片机为核心,根据待测芯片的逻辑功能,编写覆盖整个逻辑功能的测试程序,驱动单片机的输入、输出管脚,对芯片进行逻辑功能检测,根据检测结果,判断芯片是否损坏,利用蜂鸣器、LED灯及液晶屏来输出检测结果.实现了双列直插式数字电路芯片的检测功能.利用该系统能够对双列直插式数字电路芯片的好坏进行检测,以确保损坏的芯片被及时分拣出来,保障实验教学的正常进行.该系统具有较好的应用前景和实用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张颖	南开大学电子信息实验教学中心	70	992	17.0	29.0
2	张维	南开大学电子信息实验教学中心	25	134	5.0	11.0
3	赵二刚	南开大学电子信息实验教学中心	24	177	5.0	13.0
4	张红宾	南开大学电子信息实验教学中心	7	53	3.0	7.0
5	王艳芳	南开大学电子信息实验教学中心	5	20	2.0	4.0