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摘要:
在集成电路测试领域,传输延迟时间tPD是一个非常重要的参数,其不仅反映集成电路对信号的响应速度,也是集成电路测试系统交流参数测量准确的重要影响因素.详细分析了集成电路测试系统传输延迟时间产生的原因,及其对待测器件交流参数测量结果的影响.提出了基于时域反射技术的集成电路测试系统数字通道传输延迟测量方法,并在泰瑞达J750EX集成电路测试系统上进行了实验验证.通过对实验数据的分析,表明该方法能有效测量数字通道传输延迟时间,提高集成电路测试系统交流参数测量准确度.
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文献信息
篇名 数字通道传输延迟时间测量方法研究
来源期刊 计算机工程与科学 学科 工学
关键词 传输延迟时间 时域反射测量 集成电路测试系统 数字通道
年,卷(期) 2015,(10) 所属期刊栏目 高性能计算
研究方向 页码范围 1825-1830
页数 6页 分类号 TN407
字数 2899字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-130X.2015.10.005
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 顾梦霞 湖北工业大学工程技术学院 5 9 2.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
传输延迟时间
时域反射测量
集成电路测试系统
数字通道
研究起点
研究来源
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机工程与科学
月刊
1007-130X
43-1258/TP
大16开
湖南省长沙市开福区德雅路109号国防科技大学计算机学院
42-153
1973
chi
出版文献量(篇)
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11
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