新型模拟SEL故障注入模块设计

• 作者: 吴帝 周大卫 张飞 彭文溪 樊瑞睿 王焕玉 禹金标 董亦凡 龚柯
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 航空航天
• 关键词: 单粒子锁定 单粒子防护设备验证 SEL故障注入
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 页码范围: 439-442,447
• 页数: 5页
• 分类号: V244.1+6
• 字数: 1471字
• 语种: 中文

摘要

单粒子锁定防护设备用于保证CMOS器件的正常工作,避免单粒子锁定效应(SEL,Single Event Latchup)带来的诸多危害.为了实现对SEL防护设备软件功能的验证,设计了一种新型模拟SEL故障注入和消除的模块.本文从硬件和软件两个方面阐述了对该模块的设计,通过增加CMOS器件电源输入端的电流,实现了SEL的模拟注入.使用VA140芯片SEL防护电路对该模块进行了检验、测试,测试的结果证明该模块可以实现SEL模拟注入,从而对SEL防护设备的软件功能进行验证.最后,该模块被成功用于硅阵列探测器的电子学读出系统软件中单粒子防护部分的功能测试,从另一个侧面说明了该模块的应用.