软件与MBIST协同的片内SRAM测试方法研究

• 作者: 刘敏侠 廖寅龙 田泽 赵强
• 来源期刊: 计算机技术与发展
• 学科: 工学
• 关键词: SoC 存储器内建自测试 测试成本
• 年，卷（期）: 2015,（6）
• 所属期刊栏目: 应用开发研究
• 页码范围: 155-157,162
• 页数: 4页
• 分类号: TP301
• 字数: 2475字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-629X.2015.06.034

摘要

随着SoC电路功能的日益复杂,SoC电路中大量应用了内嵌随机静态存储器,传统的通过MBIST(存储器内建自测试)方式对SoC电路中SRAM的测试,将给SoC电路带来功耗及管芯面积显著增大的问题；同时在传统MBIST方式下,SoC内嵌SRAM的测试严重依赖先进的ATE测试设备,需要付出昂贵的测试成本。文中提出一种软件与MBIST相协同的SRAM测试方法,利用SoC内嵌处理器运行特定算法软件的方式,实现SoC电路中大部分SRAM的测试,同时结合传统MBIT测试方式对其余内嵌处理器难以访问的SRAM进行测试,既实现了复杂SoC中内嵌SRAM测试的完备性,也很好地解决了测试完备性与测试成本的矛盾。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田泽		46	134	6.0	9.0
2	廖寅龙		4	6	2.0	2.0
3	赵强		7	11	2.0	3.0
4	刘敏侠		6	12	2.0	2.0