系统级芯片DFT研究与设计

• 作者: 陈全
• 来源期刊: 科研
• 学科: 工学
• 关键词: 系统级芯片 DFT 测试机理 不足
• 年，卷（期）: 2015,（9）
• 页码范围: 179-180
• 页数: 2页
• 分类号: TJ06

摘要

本文章首先介绍了系统级芯片进行DFT研究与设计的背景，然后再对DFT技术的相关测试机理进行了介绍，如基于总线的测试机理、基于存储器自测试的测试机理等，并且选取一种系统级芯片为范例，较为详细地介绍了DFT技术设计系统级芯片的具体方法和步骤。最后总结找出该系统级芯片DFT设计中的不足。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈全		1	0	0.0	0.0