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摘要:
为提高探测器级高纯锗多晶材料的制备效率,开展对锗材料多次区熔过程的参数优化的数值模拟.利用分凝原理对高纯锗多晶材料制备的区熔过程进行数值模拟,针对杂质分凝系数小于1的情况,比较了不同区熔速度下,单次和多次区熔的提纯效果.结果表明,虽然速度越慢单次区熔效果越好,但对多次区熔的累计效果要采用相对快速多次的方法,以实现相同提纯效果下总时间最短,即多次累计的区熔效率最高.给出了区熔速度的优化方法,以指导实验提高区熔效率.
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文献信息
篇名 高纯锗多晶材料区熔速度优化的数值模拟
来源期刊 深圳大学学报(理工版) 学科 工学
关键词 半导体 高纯锗制备 高纯锗探测器 区熔提纯 杂质浓度 数值模拟 参数优化
年,卷(期) 2016,(3) 所属期刊栏目 材料科学
研究方向 页码范围 248-253
页数 6页 分类号 TN304.1
字数 3783字 语种 中文
DOI 10.3724/SP.J.1249.2016.03248
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 赵海歌 深圳大学物理与能源学院 15 34 3.0 4.0
2 孙慧斌 深圳大学物理与能源学院 34 131 7.0 9.0
3 罗奇 深圳大学物理与能源学院 14 44 4.0 5.0
4 胡世鹏 深圳大学物理与能源学院 3 10 2.0 3.0
5 郝昕 深圳大学物理与能源学院 7 10 2.0 2.0
6 谭志新 中国科学院高能物理研究所 1 2 1.0 1.0
10 白尔隽 深圳大学物理与能源学院 3 3 1.0 1.0
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半导体
高纯锗制备
高纯锗探测器
区熔提纯
杂质浓度
数值模拟
参数优化
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