基于FPGA的芯片引脚边缘检测系统的设计与实现

• 作者: 吴捷 方逸裕 李建辉 焉胜虎 邓海涛 陈耀文
• 来源期刊: 中国体视学与图像分析
• 学科: 工学
• 关键词: 现场可编程门阵列技术 集成电路 边缘检测
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 图像、仿真与虚拟现实
• 页码范围: 163-172
• 页数: 10页
• 分类号: TP391
• 语种: 中文
• DOI: 10.13505/j.1007-1482.2016.21.02.003

摘要

目的 为了提高芯片封装外观质量检测速度并降低检测成本,基于FPGA开发芯片引脚边缘检测系统.方法 根据FPGA并行处理高效率的特点,搭建FPGA+SDRAM高性能硬件处理平台,利用Quartus Ⅱ软件采用Verilog HDL硬件描述语言编写程序实现对芯片引脚进行边缘检测.结果 该平台仅使用FPGA少量的逻辑资源实现对芯片引脚进行有效的边缘检测.结论 该检测系统提高了工业应用中芯片引脚边缘检测的效率,同时可应用于ARM、DSP芯片封装外观质量检测.