方域斜率子孔径拼接及其精度理论分析

• 作者: 李大海 李萌阳 郭广饶 鄂可伟 陈海平
• 来源期刊: 光学与光电技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 子孔径 斜率拼接 并行拼接 串行拼接 大口径元件 精度
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 光电测量
• 页码范围: 27-33
• 分类号: O435
• 语种: 中文

摘要

子孔径拼接方法在大口径光学元件检测中发挥着重要的作用,关于子孔径拼接精度研究也受到广泛重视.子孔径斜率数据可由哈特曼探测器测得,被测光学元件上每个子孔径上的斜率数据通过最小二乘法进行拼接.测量过程中,测量数据不可避免含有随机噪声,这将影响拼接参数(如倾斜)的不确定度.推导了误差传递公式及评价拼接精度的公式,并分别计算了并行拼接和串行拼接中任意子孔径上每一点的拼接误差.在0.06 s的随机噪声下,拼接斜率的统计误差与理论误差之间的差别在10-9 rad量级.模拟实验结果证实了所提出的拼接精度公式的正确性,可以用来评价拼接精度,并从理论上给出了并行拼接误差小于串行拼接误差的原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李大海	四川大学电子信息学院	70	689	14.0	24.0
2	鄂可伟	四川大学电子信息学院	9	17	3.0	3.0
3	郭广饶	四川大学电子信息学院	2	2	1.0	1.0
4	李萌阳	四川大学电子信息学院	7	8	2.0	2.0
5	陈海平		8	12	2.0	3.0