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摘要:
在强激光系统中,光学元件表面的颗粒污染极大地限制了元件的使用寿命.本文在355 nm纳秒脉冲激光入射下,采用激光等离子体冲击波光栅式扫描技术,清洗了溶胶-凝胶SiO2薄膜表面的石英颗粒污染.当瞄准距d取为0.5~1.5 mm时,膜面的清洗效率η达到90%以上.当d<0.5 mm时,膜面易产生等离子体灼伤.当d接近3mm时,清洗效果基本丧失.采用紫外-可见分光光度计、静滴接触角测量仪与原子力显微镜对样品进行测试,结果表明,冲击波清洗之后,元件透射峰能恢复到污染前的状态.由于冲击波对颗粒的碎裂作用,清洗后膜面均方根粗糙度由1.755 nm增大为2.681 nm,膜面与水的接触角由48°减为6°,其抗污染能力明显变差.
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文献信息
篇名 355nm脉冲激光清洗溶胶-凝胶膜面颗粒污染
来源期刊 中国科学(技术科学) 学科
关键词 激光清洗 等离子体冲击波 溶胶-凝胶 颗粒污染 高功率激光
年,卷(期) 2016,(9) 所属期刊栏目 论文
研究方向 页码范围 926-930
页数 5页 分类号
字数 语种 中文
DOI 10.1360/N092016-00111
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