协同缓解PBTI和HCI老化效应的输入重排方法

• 作者: 张林 易茂祥 梁华国 欧阳一鸣 甘应贤 袁野
• 来源期刊: 合肥工业大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 晶体管老化 正偏置温度不稳定性(PBTI) 热载流子注入(HCI)效应 堆叠效应 占空比 开关概率
• 年，卷（期）: 2016,（12）
• 所属期刊栏目: 电子科学与工程
• 页码范围: 1655-1660
• 页数: 6页
• 分类号: TN432
• 字数: 4730字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-5060.2016.12.013

摘要

文章考虑了晶体管堆叠效应对串联晶体管的信号占空比和开关概率的影响，提出了一种更精确的正偏置温度不稳定性（positive bias temperature instability ，PBTI）和热载流子注入（hot carrier injection ，HCI）效应的老化模型，并引入综合考虑信号占空比和开关概率的 W 值，根据W 值的大小对输入信号重排序，以减小PB T I和HCI效应引起的电路老化。结果表明：与Hspice仿真结果相比，原有模型的平均误差为3．9％，而文中所提模型的平均误差能减小到1．4％；利用W值排序法进行晶体管输入信号重排序，逻辑门的寿命平均提高11．7％。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁华国	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	192	1611	19.0	30.0
2	欧阳一鸣	合肥工业大学计算机与信息学院	109	924	18.0	24.0
3	易茂祥	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	109	559	12.0	19.0
4	张林	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	8	27	3.0	5.0
5	袁野	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	4	7	2.0	2.0
6	甘应贤	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	2	3	1.0	1.0