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摘要:
在室温下用电化学技术进行沉积白钨矿AMO4(A:Ba、Sr,M:W、Mo)晶态薄膜开展过比较系统地研究,特别是对薄膜从在金属基底M上开始成核到薄膜制备完成的不同时间内制备的样品进行了SEM、EDX和XRD等测试分析.通过集中对不同体系钼酸盐和钨酸盐薄膜的生长过程和生长习性定性地进行对比分析,结果表明:(1)对于相同的电解质溶液、不同的金属基底,在钨片上薄膜更容易形成晶核和晶粒,在薄膜生长初期,钨片上薄膜成核速率小,晶粒粒度大,晶粒生长速率大,成膜时间长,钼片反之;(2)对于相同的金属基底、不同的电解质溶液,在薄膜生长初期,BaMO4薄膜最早的成核时间要早,BaMO4薄膜成核速率小,晶粒生长速率大,晶粒粒度大,成膜时间短;SrMO4薄膜反之;(3)薄膜上晶粒的取向与基底无关,而与电解质溶液中的阳离子有关.
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关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 电化学技术制备白钨矿单元多晶薄膜的生长特性研究
来源期刊 人工晶体学报 学科 化学
关键词 电化学技术 白钨矿薄膜 成核时间 成核速率 成膜时间
年,卷(期) 2016,(5) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 1421-1425
页数 5页 分类号 TB383|O646.542
字数 3252字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 安红娜 8 4 1.0 2.0
2 陈连平 江西理工大学材料科学与工程学院 11 18 3.0 3.0
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电化学技术
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人工晶体学报
月刊
1000-985X
11-2637/O7
16开
北京朝阳区红松园1号中材人工晶体研究院,北京733信箱
1972
chi
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