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激光聚焦线扫描法测量KDP晶体坯片的体缺陷
激光聚焦线扫描法测量KDP晶体坯片的体缺陷
作者:
倪开灶
刘世杰
吴周令
陈坚
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
磷酸二氢钾(KDP)晶体
晶体坯片
体缺陷
激光聚焦线扫描
散射测量
摘要:
为了快速准确测量磷酸二氢钾(KDP)晶体坯片的体缺陷,提出了高速激光聚焦线扫描散射成像方法,并建立了相应的测量系统.研究了该系统的测量原理和图像采集、图像处理和体缺陷信息提取方法.基于激光散射技术,结合高速运动装置对晶体坯片内部进行三维扫描,用线阵CCD探测器接收气泡、包裹物等体缺陷产生的散射光.然后利用折射率匹配液消除粗糙表面带来的不利影响.最后结合数字图像处理技术,对采集的图像进行实时处理.通过去除背景后与设定阈值比较得到具有体缺陷特征的图像,再对其进行二值化处理,提取得到体缺陷的位置和尺寸信息.利用该检测装置对KDP晶体坯片体缺陷进行了测量,结果显示其检测分辨率优于40 μm,能够为晶体坯片的精确切割和最大程度的利用提供依据,从而节省了大量成本.
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加压
缺陷
夹层
特性要素图
聚焦激光在KDP晶体中的传输特性模拟
激光技术
传输特性
数值模拟
KDP晶体
KDP晶体体缺陷和损伤的观测方法研究
散射法
显微镜相衬法
KDP晶体
体损伤
内容分析
文献信息
引文网络
相关学者/机构
相关基金
期刊文献
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
文献信息
篇名
激光聚焦线扫描法测量KDP晶体坯片的体缺陷
来源期刊
光学精密工程
学科
工学
关键词
磷酸二氢钾(KDP)晶体
晶体坯片
体缺陷
激光聚焦线扫描
散射测量
年,卷(期)
2016,(12)
所属期刊栏目
高功能激光光学元器件
研究方向
页码范围
3020-3026
页数
7页
分类号
O77|TN247
字数
2366字
语种
中文
DOI
10.3788/OPE.20162412.3020
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
刘世杰
中国科学院上海光学精密机械研究所强激光材料重点实验室
29
104
5.0
9.0
2
倪开灶
中国科学院上海光学精密机械研究所强激光材料重点实验室
1
1
1.0
1.0
3
吴周令
1
1
1.0
1.0
4
陈坚
1
1
1.0
1.0
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同被引文献
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(3)
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参考文献(1)
二级参考文献(0)
2002(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2003(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2015(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2016(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2016(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
2017(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
2018(2)
引证文献(0)
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2019(1)
引证文献(0)
二级引证文献(1)
研究主题发展历程
节点文献
磷酸二氢钾(KDP)晶体
晶体坯片
体缺陷
激光聚焦线扫描
散射测量
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光学精密工程
主办单位:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国仪器仪表学会
出版周期:
月刊
ISSN:
1004-924X
CN:
22-1198/TH
开本:
大16开
出版地:
长春市东南湖大路3888号
邮发代号:
12-166
创刊时间:
1959
语种:
chi
出版文献量(篇)
6867
总下载数(次)
10
总被引数(次)
98767
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