TFT-LCD表面缺陷检测中一维DFT方法中邻域r的自动选取

• 作者: 党学明 卢荣胜 张腾达
• 来源期刊: 中国机械工程
• 关键词: 薄膜晶体管-液晶显示器 缺陷检测 灰度共生矩阵 一维离散傅里叶变换 邻域r
• 年，卷（期）: 2016,（21）
• 页码范围: 2895-2901
• 页数: 7页
• 分类号: TP182|TN911.73
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-132X.2016.21.010

摘要

在TFT-LCD平板表面缺陷检测中,为了自动获取一维 DFT 方法中的邻域r,首先将无缺陷的TFT-LCD平板表面图像的每一行经过预处理,再计算其灰度共生矩阵,然后提取灰度共生矩阵的均匀度,最后计算不同r 时的均匀度差值。最大差值所对应的r 就是最佳邻域。搭建了 TFT-LCD 平板检测实验系统,实验对不同长度的非整周期、整周期、非整周期补整的图像进行处理。从获取的r 可知,在相同环境下,非整周期补整后的r 和整周期的r 相同。将这一结果应用到实际缺陷检测中,系统可以准确地检测出缺陷。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	党学明		22	77	4.0	8.0
2	卢荣胜		85	767	17.0	22.0
3	张腾达		9	72	5.0	8.0