多晶体硅太阳电池的PID效应研究

• 作者: 于琨 李会玲 王占友 王月勤 贺美亮
• 来源期刊: 中小企业管理与科技
• 关键词: 电势诱导衰减(PID效应) 表面钝化层 折射率 多晶电池
• 年，卷（期）: 2016,（22）
• 所属期刊栏目: 科技前沿
• 页码范围: 122-123,124
• 页数: 3页
• 字数: 3618字
• 语种: 中文

摘要

随着多晶硅太阳电池的广泛应用，电池组件的电势诱导衰减( PID )现象越来越引起大家的重视。本文主要研究了铸锭电阻率、电池扩散方阻、前表面钝化层折射率对电池组件的PID的影响。研究结果表明：PID现象和铸锭电阻率、电池扩散方阻、前表面钝化层折射率有关。在保证效率的基础上，提高折射率到2.10就可以满足抗PID要求，组件的封装损失与普通电池的组件功率相当，因此具有很好的应用前景。