宽带功率放大器温度可靠性研究

• 作者: 林倩 陈超
• 来源期刊: 天津理工大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 宽带功率放大器 温度可靠性 温度冲击 GaN HEMT 性能退化
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 页码范围: 35-38
• 页数: 4页
• 分类号: TN306
• 字数: 2169字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-095X.2017.001.008

摘要

本文通过一系列的实验对宽带放大器的温度可靠性进行了测试和分析.旨在通过环境温度测试及温度突变测试来研究温度对功率放大器直流特性、S参数、RF输出特性和可靠性的影响.实验结果表明,环境温度的升高和突变会引起功率放大器性能发生显著退化.这对射频设备的可靠性研究和设计提供重要的指导.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈超	青海民族大学物理与电子信息工程学院	25	53	4.0	6.0
2	林倩	青海民族大学物理与电子信息工程学院	28	18	2.0	3.0