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摘要:
现场X射线荧光分析(EDXRF)中,使用滤光片可以有效的降低或消除由原级谱在样品中散射背景,特征谱对待测元素的干扰.论文采用MCNP5程序模拟了加不同厚度Al、Cu、Ag、Kapton滤光片前后的原级谱分布.依据模拟结果,原级X射线谱的谱分布与滤光片的材质和厚度有关.能量低于5keV的射线对分析是无用的.在能量5~10 keV的能量谱段,选择Al滤光片较为合适;在能量10 ~25keV谱段范围,Ag滤光片相对于另外三种滤光片较为合适.从而为现场X荧光分析仪的研制提供技术支撑.
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文献信息
篇名 滤光片对透射式微型X光管谱线影响的MC数值模拟分析
来源期刊 核电子学与探测技术 学科 工学
关键词 微型X射线管 现场X射线荧光分析 滤光片 MCNP5
年,卷(期) 2017,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 47-50
页数 4页 分类号 TL8|TL99
字数 2297字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 赵剑锟 成都理工大学核技术与自动化工程学院 14 37 4.0 5.0
2 程鹏亮 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
微型X射线管
现场X射线荧光分析
滤光片
MCNP5
研究起点
研究来源
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
核电子学与探测技术
双月刊
0258-0934
11-2016/TL
大16开
北京市经济技术开发区宏达南路3号
1981
chi
出版文献量(篇)
5579
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