一种基于测例层模型的功能验证方法

• 作者: 王新安 王明江 谢峥 雍珊珊
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 功能验证 测例层模型 RFID UVM
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 固态电子器件及材料
• 页码范围: 1053-1059
• 页数: 7页
• 分类号: TN47
• 字数: 4050字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2017.05.001

摘要

针对集成电路功能验证的完整性和重用性问题,使用测例层模型,构建协议功能完整覆盖的验证计划,并使用UVM验证方法和库函数搭建验证环境,对一款符合GJB 800/900 MHz RFID芯片系统的设计进行功能验证.所提出的测例层模型具备通用性.填充协议内容后的模型,在满足相同协议的设计之间可重用,在相似协议或非完整协议的设计中也可重用,即面向协议的测例层VIP及其构建方法.最终保证了GJB协议芯片的验证覆盖率,在TSMC 0.18μm工艺流片成功.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王新安	信息工程学院北京大学深圳研究生院	2	5	1.0	2.0
2	雍珊珊	信息工程学院北京大学深圳研究生院	2	5	1.0	2.0
3	谢峥	电子与信息工程学院哈尔滨工业大学深圳研究生院	1	1	1.0	1.0
4	王明江	电子与信息工程学院哈尔滨工业大学深圳研究生院	1	1	1.0	1.0