非同步ADC采样的校正方法研究

• 作者: 周兆庆 曹玉保
• 来源期刊: 中国集成电路
• 关键词: 非同步采样 插值采样 Ⅴ型采样 误差分析
• 年，卷（期）: 2017,（10）
• 所属期刊栏目: 设计
• 页码范围: 17-19
• 页数: 3页
• 字数: 1761字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-5289.2017.10.004

摘要

相对于同步采样,非同步采样能够有效的降低电路板成本.本文对非同步采样的两种误差校正方法——插值采样和Ⅴ型采样进行了介绍.阐述了插值采样与Ⅴ型采样的误差产生机理.理论分析与仿真验证结果表明,非同步采样经纠正后的误差能够符合标准要求,适用在电力系统测控采样.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周兆庆		7	12	2.0	3.0
2	曹玉保		5	11	2.0	3.0