基于介电性能的电缆热老化及辐照老化检测技术研究

• 作者: 云浩 张益舟 汪亮 王雷 郑峥 龚智明
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 核级电缆 热老化 辐照老化 状态监测 介损频谱
• 年，卷（期）: 2017,（9）
• 页码范围: 62-67
• 页数: 6页
• 分类号: TM206|TM247
• 语种: 中文
• DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2017.09.013

摘要

通过研究电缆的热老化和辐照老化机理及其对绝缘材料介电性能的影响,探讨了基于电气性能对电缆进行无损检测的可行性.以两种交联聚烯烃材料的核级低压电缆为对象,通过加速老化试验模拟其全服役寿期,测试老化试样的断裂伸长率、红外光谱、氧化诱导温度以及介电损耗频谱,以研究电缆绝缘随热老化和辐照老化的性能下降规律.结果表明:热老化机理和辐照老化基本一致,都是基材的高分子链断裂氧化和添加剂(如抗氧化剂)含量减少共同作用的结果,其中添加剂的挥发对绝缘介电频谱的影响可能起主导作用.通过单个频率或某特定频率范围下的介质损耗大小来评价电缆绝缘热老化和辐照老化可能不具备普适性,而应在更宽的测试频段中获取信息.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张益舟		2	6	1.0	2.0
2	王雷		2	6	1.0	2.0
3	汪亮		2	6	1.0	2.0
4	云浩		2	6	1.0	2.0
5	郑峥		1	6	1.0	1.0