XLPE电缆绝缘加速热老化特性

• 作者: 刘骥 张志坚 张明泽 曹京荥 李陈莹 胡丽斌 谭笑 陈杰
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: XLPE 加速老化 介质损耗因数 扫频测试
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 所属期刊栏目: 绝缘技术
• 页码范围: 59-63
• 页数: 5页
• 分类号: TM215
• 语种: 中文
• DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2020.02.009

摘要

为探究长期运行环境下XLPE电缆绝缘的老化特性,在实验室条件下对电缆绝缘材料进行加速热老化实验,通过红外光谱、氧化诱导时间及频域介电响应测试,比较分析老化前后XLPE电缆绝缘的理化特性、电气特性变化规律.结果 表明:红外光谱中的羰基峰值可用于定性分析XLPE绝缘材料的老化程度;XLPE绝缘高温下的降解随着老化时间的延长愈加严重,氧化诱导时间不断缩短.XPLE材料介质损耗因数频谱曲线的最小值tanδmin与材料老化程度相关且与测试温度无关,因此tanδmin可作为评估XLPE绝缘老化情况的特征量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘骥		44	338	10.0	17.0
2	陈杰		2	2	1.0	1.0
3	胡丽斌		1	0	0.0	0.0
4	李陈莹		1	0	0.0	0.0
5	张志坚		1	0	0.0	0.0
6	张明泽		9	10	1.0	3.0
7	曹京荥		1	0	0.0	0.0
8	谭笑		1	0	0.0	0.0