毁损移动智能终端取证技术分级模型研究

• 作者: 田庆宜 郭弘
• 来源期刊: 信息网络安全
• 学科: 工学
• 关键词: 损毁移动智能终端 芯片取证 分级模型 取证技术途径选择
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 技术研究
• 页码范围: 29-34
• 页数: 6页
• 分类号: TP309
• 字数: 6208字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-1122.2017.02.005

摘要

移动智能终端取证环境日趋复杂,一方面,移动智能终端本身的技术条件及嫌疑人对检材蓄意破坏对取证技术途径和结果均有影响,另一方面,移动智能终端取证技术也得到了飞速发展,不同的技术途径有不同的适用条件和风险,导致遇到检材量较大时难以在实验室人员、设备等有限资源下选择最优的取证技术途径.文章通过对影响技术途径选择的相关因素进行抽象,并对各影响因素根据实战实践赋予权重,建立评分模型,可实现检材进入实验室自动评分并提示其可选技术途径,有效提高了取证实验室反应能力.