灰色关联分析在SPIF表面粗糙度优化中的应用

• 作者: 姚梓萌 李言 李韩博 杨明顺 袁启龙
• 来源期刊: 机械科学与技术
• 学科: 工学
• 关键词: 单点增量成形 灰色关联分析 方锥台 表面粗糙度
• 年，卷（期）: 2017,（10）
• 所属期刊栏目: 精密制造与加工
• 页码范围: 1575-1581
• 页数: 7页
• 分类号: T376
• 字数: 3748字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13433/j.cnki.1003-8728.2017.10015

摘要

成形件表面质量差是制约单点增量成形(SPIF)应用的主要因素之一,其中表面粗糙度是评价表面质量的一项重要指标.以45°方锥台为研究对象,采用基于灰色关联分析的方法,进行成形件表面质量多目标控制的成形参数优化.为了采用较少的实验次数搜寻到最佳的表面质量特性的成形参数,采用田口正交表进行实验设计,通过灰色关联分析中得到的灰色关联度决定优化的成形参数,同时通过成形参数的最大与最小的灰色关联度差值得到了对表面质量影响较显著的因子.实验结果表明:利用本文提出的方法,可以使成形件的纵向和横向表面粗糙度得到有效的改善.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李言	西安理工大学机械与精密仪器工程学院	361	3453	31.0	39.0
2	袁启龙	西安理工大学机械与精密仪器工程学院	80	731	16.0	22.0
3	杨明顺	西安理工大学机械与精密仪器工程学院	123	774	13.0	22.0
4	姚梓萌	西安理工大学机械与精密仪器工程学院	23	68	5.0	7.0
5	李韩博	西安理工大学机械与精密仪器工程学院	3	25	3.0	3.0