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摘要:
纳米级金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)精确的高频噪声模型是毫米波集成电路低功耗设计的重要基础,而现有的高频漏极噪声模型不仅没有融合器件的衬底效应和栅电阻效应,也没有充分考虑器件的频率和偏置依赖性.针对上述问题,基于纳米MOSFET器件的物理特性,并结合漂移扩散方程和有效栅极过载,建立统一表征强反区到弱反区的频率和偏置依赖性的漏极噪声模型,使之便于移植到先进设计系统(ADS)仿真设计.通过所建模型的仿真结果与实验测试结果进行比较,验证所建模型的准确性.同时比较所建模型对130 nm和40 nm MOSFET两种不同工艺器件的实用性,验证其对表征40 nm MOSFET的毫米波噪声特性的优越性.
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文献信息
篇名 毫米波频段下MOSFET漏极电流噪声的统一模型
来源期刊 强激光与粒子束 学科 工学
关键词 MOSFET 漏极电流噪声 毫米波 弱反区 噪声模型
年,卷(期) 2017,(8) 所属期刊栏目 微纳技术
研究方向 页码范围 80-84
页数 5页 分类号 TN386.1
字数 3764字 语种 中文
DOI 10.11884/HPLPB201729.170054
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王军 西南科技大学信息工程学院 47 152 6.0 9.0
2 罗震 西南科技大学信息工程学院 1 1 1.0 1.0
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节点文献
MOSFET
漏极电流噪声
毫米波
弱反区
噪声模型
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
强激光与粒子束
月刊
1001-4322
51-1311/O4
大16开
四川绵阳919-805信箱
62-76
1989
chi
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9833
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7
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