冲击电压下金属微粒对SF6中支柱绝缘子沿面闪络特性的影响

• 作者: 刘轩东 张玲俐 谭向宇
• 来源期刊: 高压电器
• 关键词: SF6气体绝缘金属封闭开关设备(GIS) 波头时间 支柱绝缘子 “驼峰”曲线 “U”型曲线 空间电荷
• 年，卷（期）: 2017,（9）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 204-209
• 页数: 6页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13296/j.1001-1609.hva.2017.09.035

摘要

随着中国电网发展,高电压等级下,越来越多的SF6气体绝缘金属封闭开关设备(GIS)在运行过程中出现绝缘故障,支柱绝缘子作为GIS中的绝缘薄弱环节,由于其沿面闪络导致GIS事故的案例屡见不鲜.为探究造成绝缘子闪络事故的原因,文中利用实验室1 MV陡前沿冲击试验装置,研究双指数冲击电压作用下气压及波头时间对表面附着金属微粒的支柱绝缘子沿面闪络电压的影响.结果表明:附着金属微粒的支柱绝缘子沿面闪络电压随气压升高出现了“驼峰”现象,负极性“驼峰”极大值对应的临界气压值小于正极性.此外,正极性闪络通道单一,而负极性闪络通道呈弥散状分布,曲折并带有分支,且随气压升高,正、负极性闪络通道均逐渐收细.波头时间变化时,附着金属微粒支柱绝缘子的50％闪络电压呈下凹“U”型,且负极性冲击电压作用下“U”型曲线中的“临界波头时间”小于正极性.分析表明,“驼峰”现象是由流注通道中空间电荷的“电晕稳定化”作用造成的;因为正、负流注的发展过程不同,故放电通道形态也不同;而“U”型曲线是由放电时延、空间电荷以及位移电流注入电荷多种因素共同作用所造成的.