近场显微成像法识别高功率激光镜片薄膜内部缺陷

• 作者: 白忠臣 秦水介 郝礼才 陆安江 黄兆岭
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 物理学
• 关键词: 薄膜 近场光学 孔径针尖 高功率光薄膜 节瘤缺陷 裂纹
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 所属期刊栏目: 材料与薄膜
• 页码范围: 190-195
• 页数: 6页
• 分类号: O439
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/CJL201744.0103001

摘要

采用近场显微成像法测量了高功率激光镜片薄膜表面裂纹和内部节瘤缺陷,并分析了它们的形成机制. 100 nm孔径的圆锥形针尖辐射的倏逝波与薄膜中预埋的缺陷相互作用,将倏逝波转化为辐射波后,由物镜收集并在远场逐点成像,同步地获得薄膜表面的原子力显微镜(AFM)图像和扫描近场光学显微镜(SNOM)图像,以便直观地识别缺陷产生的物理机制.结果表明:在倏逝波的有效作用区域内,薄膜表面裂纹与内部节瘤可以同时精确地被识别.通过对比SNOM与AFM结果,发现基底表面裂纹在镀膜过程中积累了残余应力,这导致薄膜的表面呈层状断裂,其单条最小裂纹横向剖面尺寸为165 nm,超过了传统远场检测的实验检测精度;此外,SNOM 图中的亮斑表明,薄膜的内部有高于基底折射率的节瘤存在.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	秦水介		56	190	6.0	11.0
2	陆安江		61	169	8.0	10.0
3	白忠臣		42	37	3.0	4.0
4	黄兆岭		4	0	0.0	0.0
5	郝礼才		3	0	0.0	0.0