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N2流量对等离子体增强磁控溅射TiN涂层的影响
N2流量对等离子体增强磁控溅射TiN涂层的影响
作者:
付志强
岳文
王成彪
谢启
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
等离子体增强磁控溅射
TiN涂层
N2流量
迟滞回线
微观结构
摩擦磨损性能
摘要:
目的 研究N2流量对等离子体增强磁控溅射TiN涂层组织结构和性能的影响,优化TiN涂层的制备工艺.方法 在不同N2流量的条件下,采用等离子体增强磁控溅射法制备TiN涂层.采用3D形貌仪和扫描电子显微镜观察涂层的表面形貌,利用X射线衍射仪测定涂层的相结构,利用显微硬度计测试涂层试样的硬度,利用球-盘摩擦磨损试验机考察涂层试样的摩擦磨损性能,利用能谱仪分析磨痕表面的化学组成.结果 N2流量小于61.5 mL/min时,增加N2流量对总气压和靶电压的影响很小;N2流量超过61.5 mL/min后,总气压和靶电压均随着N2流量的增加而显著增大.随着N2流量的增大,制备的TiN涂层X射线衍射谱中的TiN(111)、TiN(220)衍射峰强度不断增大,TiN(200)衍射峰强度先不变后突然减小.N2流量约为61.5 mL/min时,制备的TiN涂层试样的致密性最好,硬度最高.N2流量在50~61.5 mL/min范围内,制备的TiN涂层试样的磨损率较低,最低可达7.4×10-16 m3/(N·m).当N2流量超过63 mL/min后,TiN涂层试样的磨损率显著增大.结论 N2流量对等离子体增强磁控溅射TiN涂层择优取向、硬度及摩擦磨损性能的影响较显著,N2流量约为61.5 mL/min时,制备的TiN涂层试样的硬度和耐磨性最好.
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篇名
N2流量对等离子体增强磁控溅射TiN涂层的影响
来源期刊
表面技术
学科
工学
关键词
等离子体增强磁控溅射
TiN涂层
N2流量
迟滞回线
微观结构
摩擦磨损性能
年,卷(期)
2017,(6)
所属期刊栏目
专题——硬质薄膜与涂层技术
研究方向
页码范围
161-167
页数
7页
分类号
TG174.442
字数
语种
中文
DOI
10.16490/j.cnki.issn.1001-3660.2017.06.025
五维指标
传播情况
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研究来源
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研究去脉
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期刊影响力
表面技术
主办单位:
中国兵器工业第五九研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1001-3660
CN:
50-1083/TG
开本:
16开
出版地:
重庆市2331信箱(重庆市九龙破区石桥铺渝州路33号)
邮发代号:
78-31
创刊时间:
1972
语种:
chi
出版文献量(篇)
5547
总下载数(次)
30
总被引数(次)
34163
相关基金
国家自然科学基金
英文译名:
the National Natural Science Foundation of China
官方网址:
http://www.nsfc.gov.cn/
项目类型:
青年科学基金项目(面上项目)
学科类型:
数理科学
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