大规模数字电路系统可测性设计技术研究

• 作者: 张昊
• 来源期刊: 微型机与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 大规模数字电路测试 边界扫描 故障诊断
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 硬件与结构
• 页码范围: 28-31,36
• 页数: 5页
• 分类号: TP216
• 字数: 3924字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19358/j.issn.1674-7720.2017.02.010

摘要

为满足大规模数字电路系统测试、故障诊断的需要,可测性(DFT)设计已成为大规模数字电路系统设计中不可或缺的重要组成部分.结合边界扫描测试原理和大规模数字电路系统的主要特点,研究DFT实现的技术途径,并将其用于某大规模数字电路系统的设计中.实现了该大规模数字电路系统的一键式互连故障诊断及可扫描网络准确定位,有效简化了测试复杂度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张昊		1	2	1.0	1.0