电子产品电磁兼容EMI测试的紧迫性

• 作者: 王少启 金宏力
• 来源期刊: 中国科技投资
• 关键词: 电子产品 电磁兼容测试 骚扰电压 辐射发射
• 年，卷（期）: 2017,（9）
• 所属期刊栏目: 设计与应用
• 页码范围: 295,388
• 页数: 2页
• 字数: 746字
• 语种: 中文

摘要

产品的性能是质量的保障,而电磁兼容的优劣直接影响产品性能.电磁兼容问题,近年来已逐渐形成捉襟见肘之势.本文针对电子产品在EMI测试情况的剖析,列举了部分电子产品的骚扰电压、辐射发射未通过的测试结果.造成电磁兼容问题主要存在于芯级、板级、系统架构之间,进行产品前期设计和后期整合预先考虑电磁兼容问题,是优化电磁兼容必要措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王少启		8	3	1.0	1.0
2	金宏力		2	0	0.0	0.0