基于快速面探测方法的碳化硅表面残余应力测量

• 作者: 林彬 闫帅 陈经跃
• 来源期刊: 金刚石与磨料磨具工程
• 学科: 工学
• 关键词: 二维面探测 X射线衍射 陶瓷加工 表面残余应力
• 年，卷（期）: 2018,（6）
• 页码范围: 80-85
• 页数: 6页
• 分类号: TH16|TB32
• 字数: 2581字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13394/j.cnki.jgszz.2018.6.0015

摘要

陶瓷加工后表面残余应力的测量通常采用一维X射线衍射线探测法,该方法存在测量过程烦琐 、效率低 、成本高等问题,因此采用新型快速二维面探测X射线衍射残余应力测量方法,对碳化硅陶瓷表面的残余应力进行测量,实验中测量了3种不同品牌碳化硅工件的初始表面和抛光后表面的残余应力.结果表明:此新方法单次测量即可获得样品500点的衍射信息,特别适用于陶瓷材料的应力测量.同时还发现:对于被加工表面的残余压应力,抛光加工最高能够消除近80％ 的残余应力,但不能改变工件的残余应力分布.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林彬	天津大学先进陶瓷与加工技术教育部重点实验室	93	970	18.0	28.0
2	闫帅	天津大学先进陶瓷与加工技术教育部重点实验室	4	2	1.0	1.0