高能偏振能量色散X射线荧光光谱仪测定地质样品中稀土元素

• 作者: 刘建坤 沈加林 袁静 郑荣华
• 来源期刊: 光谱学与光谱分析
• 学科: 化学
• 关键词: 稀土元素 高能偏振X射线荧光光谱仪 地质样品 快速检测
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 页码范围: 582-589
• 页数: 8页
• 分类号: O657.3
• 字数: 5815字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2018)02-0582-08

摘要

由于稀土元素本身的特点及以往X射线荧光光谱仪的局限性,用XRF方法快速测定地质样品中稀土元素一直是个难点.探讨了有效解决该问题的途径.采用粉末压片制样,应用Epsilon 5型高能偏振X射线荧光光谱仪(HE-P-EDXRF)建立了土壤、岩石和水系沉积物中稀土元素La,Ce,Pr,Nd,Sm,Eu,Gd, Tb,Dy,Ho,Er,Tm,Yb,Lu和Y的EDXRF分析方法,对分析线,二次靶,基体校正方法及校准曲线的回归等进行了探讨.结果表明,La,Ce,Pr,Nd和Y的校准曲线的相关系数 r>0.99,其余元素的相关系数也均在0.969以上;Pr 的检出限为4.09,其余元素的检出限在0.03 ~ 2.13之间;对岩石标准物质GBW07105连续测定10次,RSD在0.81% ~8.35%;检验样本的EDXRF测定值与电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定值平均相对偏差在4.4% ~15.4% 之间,除Gd外其余元素的平均相对偏差均在15% 以内,其中较好的为Y(4.4%),La(8.3%),Ce(8.3%),Nd(8.6%).综上可知,本方法操作简单,能够实现大批量的岩石、土壤、水系沉积物中稀土元素的快速准确测定.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈加林	南京地质矿产研究所中国地质调查局南京地质调查中心	38	355	10.0	17.0
2	郑荣华	南京地质矿产研究所中国地质调查局南京地质调查中心	22	169	8.0	12.0
3	刘建坤	南京地质矿产研究所中国地质调查局南京地质调查中心	19	149	7.0	12.0
4	袁静	南京地质矿产研究所中国地质调查局南京地质调查中心	1	4	1.0	1.0