温度对电子辐照下聚酰亚胺表面充电的影响

• 作者: 刘浩 原青云 周立栋 孙永卫 王松 蒙志成
• 来源期刊: 量子电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 材料 平衡电位 表面充电 聚酰亚胺 温度 束流密度
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: 激光应用
• 页码范围: 79-85
• 页数: 7页
• 分类号: V19|TM81
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-5461.2018.01.013

摘要

为了研究温度、等离子体环境变化对航天器表面介质材料充电水平的影响,利用研制的温度可控航天器介质材料表面带电综合实验系统,对聚酰亚胺材料进行了表面充电实验.结果表明:温度不变时,聚酰亚胺表面充电平衡电位随束流密度的增大逐渐增大;束流密度不变时,聚酰亚胺表面充电平衡电位随温度升高逐渐减小.温度在243～363K范围时,束流密度越大,温度变化对聚酰亚胺表面充电平衡电位的影响越小;温度在243～273K范围时,束流密度越大,温度变化对聚酰亚胺表面充电平衡电位的影响越大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙永卫	军械工程学院静电与电磁防护研究所	64	408	12.0	16.0
2	原青云	军械工程学院静电与电磁防护研究所	50	325	12.0	15.0
3	刘浩	军械工程学院静电与电磁防护研究所	13	62	3.0	7.0
4	周立栋	军械工程学院静电与电磁防护研究所	7	8	2.0	2.0
5	蒙志成	军械工程学院静电与电磁防护研究所	10	11	2.0	2.0
6	王松	军械工程学院静电与电磁防护研究所	19	74	6.0	7.0