电子辐照导致CMOS图像传感器性能退化

• 作者: 冯婕 张翔 文林 李豫东 王田珲 郭旗 马林东
• 来源期刊: 现代应用物理
• 学科: 工学
• 关键词: CMOS图像传感器 暗电流 饱和输出 暗信号非均匀性
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 辐射效应及加固技术
• 页码范围: 72-75,86
• 页数: 5页
• 分类号: TN386.5
• 字数: 2467字
• 语种: 中文
• DOI: 10.12061/j.issn.2095-6223.2018.040601

摘要

对国产科学级4T-CMOS图像传感器进行电子辐照实验,考察了暗电流、饱和输出灰度值、暗信号非均匀性等参数,分析了器件的电子辐照效应损伤机理.实验结果显示,随着辐照总吸收剂量的增加,器件的饱和输出灰度值下降,并且暗电流显著增加.分析认为,器件的饱和输出灰度值退化机制与电离总剂量效应引起的退化物理机理一致,辐照使转移栅沟道电势势垒下降是饱和输出灰度值下降的主要原因,而暗电流的增长主要由浅槽隔离界面缺陷和体缺陷造成.10 MeV电子辐照后暗电流退化表现出一定的偏置效应,这是由10 MeV电子辐照引起的位移损伤所致.